22 5月 2018

【分析技術】産総研:アモルファス相変化記録材料の局所構造をモデル化する技術を開発

・産総研は、アモルファス物質の局所構造を微細な電子線の回折からモデル化する技術を開発した。
・今回開発した手法では、リバースモンテカルロ法という従来はX線回折などの平均構造情報に対するアモルファスのモデル化手法を、極微細な電子線の回折を測定するオングストロームビーム電子回折法に適用した。
・今回は光ディスク等の相変化記録材料の局所構造をモデル化したが、基本的にアモルファス構造であればどのような材料にも適用できる。
・今後は、今回開発した手法を、リチウムイオン電池の電極材料などの他のアモルファス材料にも応用してアモルファス物質の構造と特性の相関を明らかにしていく。
<元記事>http://www.aist.go.jp/aist_j/press_release/pr2018/pr20180519/pr20180519.html